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本发明提供了一种基于改进Faster‑RCNN的PCB缺陷数据集检测方法，包括：生成PCB缺陷数据集；将从轻量化可变形卷积和混合注意力机制两方面改进得到的DAS注意力机制加入到Faster‑RCNN的RPN模块中，并在特征提取模块中构建特征...
该专利属于芜湖雅葆轩电子科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过芜湖雅葆轩电子科技股份有限公司授权不得商用。

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