一种基于改进Faster-RCNN的PCB缺陷检测方法技术

技术编号:46020404 阅读:12 留言:0更新日期:2025-08-05 19:26
本发明专利技术提供了一种基于改进Faster‑RCNN的PCB缺陷数据集检测方法,包括:生成PCB缺陷数据集;将从轻量化可变形卷积和混合注意力机制两方面改进得到的DAS注意力机制加入到Faster‑RCNN的RPN模块中,并在特征提取模块中构建特征金字塔FPN,同时在RPN和RoI Heads的损失函数中加入形变正则化,最后训练改进后的网络对真实的PCB缺陷数据集进行目标检测与识别。本发明专利技术有效提高了对PCB缺陷这一小目标的检测能力,提升了性能并减少了计算成本。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及缺陷检测,具体涉及一种基于改进faster-rcnn的pcb缺陷检测方法。


技术介绍

1、随着电子技术的飞速发展,pcb作为电子产品的核心组成部分,具有提供电器连接和支撑元器件的重要作用。在现代工业生产过程中,无论是民用还是军用产品,都离不开pcb,特别是在航空航天、通信、计算机等精密领域。微小的生产缺陷如开路、短路或焊点不良等都会影响设备的稳定性,为了确保产品的质量与可靠性,对pcb进行缺陷检测具有重要意义。

2、近年来,深度学习技术得到了快速发展,越来越多的学者将深度学习应用与pcb缺陷检测领域,以提高检测的准确性和实时性,以faster-rcnn为代表的双阶段检测目标算法在pcb缺陷检测中得到了广泛应用。

3、pcb缺陷检测的准确性和实时性直接关系到整个生产流程的质量和效率,鉴于pcb表面特性的复杂性、缺陷类型的多样性、背景与缺陷之间界限的模糊性以及微小缺陷的普遍性,当前大多数缺陷检测方法仍面临检测效率低下、难以适应缺陷多样性等挑战;在pcb(印刷电路板)缺陷检测任务中,微小缺陷的普遍性是指pcb制造过程中频繁出本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于改进Faster-RCNN的PCB缺陷检测方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的基于改进Faster-RCNN的PCB缺陷检测方法,其特征在于,步骤S1进一步包括:

3.根据权利要求2所述的基于改进Faster-RCNN的PCB缺陷检测方法,其特征在于,步骤S1中,进行图像扩增的过程包括:对PCB缺陷数据集中的PCB图片进行镜像翻转、旋转、亮度和对比度增强处理,得到图像增广后的数据集。

4.根据权利要求1所述的基于改进Faster-RCNN的PCB缺陷检测方法,其特征在于,步骤S2进一步包括:

5.根...

【技术特征摘要】

1.一种基于改进faster-rcnn的pcb缺陷检测方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的基于改进faster-rcnn的pcb缺陷检测方法,其特征在于,步骤s1进一步包括:

3.根据权利要求2所述的基于改进faster-rcnn的pcb缺陷检测方法,其特征在于,步骤s1中,进行图像扩增的过程包括:对pcb缺陷数据集中的pcb图片进行镜像翻转、旋转、亮度和对比度增强处理,得到图像增广后的数据集。

4.根据权利要求1所述的基于改进faster-rcnn的pc...

【专利技术属性】
技术研发人员:胡啸天胡啸宇
申请(专利权)人:芜湖雅葆轩电子科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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