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一种基于热气体辅助的碳化硅晶片的抛光方法及应用技术
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下载一种基于热气体辅助的碳化硅晶片的抛光方法及应用的技术资料
文档序号:45966672
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本发明公开了一种基于热气体辅助的碳化硅晶片的抛光方法及应用,涉及半导体材料加工技术领域。抛光方法包括对碳化硅晶片的气体研磨、精研磨和化学机械抛光;气体研磨中,加热区的压缩气体经喷射区以气流的形式喷出,喷射气流携带研磨介质进入研磨区后,喷射于...
该专利属于通威微电子有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过通威微电子有限公司授权不得商用。
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