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本发明涉及芯片设计技术领域，特别是涉及一种基于IP验证的反压测试方法、电子设备及存储介质，其通过IP模块的第i个待测接口inf<subgt;i</subgt;输出多条测试指令；将每条测试指令加入设计验证端DV中inf<su...
该专利属于沐曦集成电路（上海）股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过沐曦集成电路（上海）股份有限公司授权不得商用。

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