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本申请公开了一种自动测试设备、芯片测试方法、装置及介质，用以实现在芯片量产测试之前，采用预设规则执行预测试，从而实现对芯片量产测试环境是否正常的检测，进而提高工作效率和量产测试准确性。设备包括：存储器，用于存储程序指令；处理器，调用存储器中...
该专利属于炬芯科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过炬芯科技股份有限公司授权不得商用。

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