【技术实现步骤摘要】
本申请涉及集成电路半导体量产测试，尤其涉及一种自动测试设备、芯片测试方法、装置及介质。
技术介绍
1、在射频芯片量产测试过程中，为了准确测量被测芯片的射频tx功率(即发射功能)，需要对tx路径上的功率衰减做预先测量。在芯片的量产测试过程中，对于测试环境(温度、接触阻抗、电磁环境)敏感的测试指标，需要定期使用样品ic(集成电路，integratedcircuit)监控当前测试环境，目前这些测试由人工进行相关操作，耗费人力，工作效率和准确性较低。
技术实现思路
1、本申请实施例提供了一种自动测试设备、芯片测试方法、装置及介质，用以实现在芯片量产测试之前，采用预设规则执行预测试，从而实现对芯片量产测试环境是否正常的检测，提高了工作效率和测试的准确性，避免人为操作耗费大量人力，以及工作效率和准确性较低的问题。
2、本申请实施例提供的一种自动测试设备，包括：
3、存储器，用于存储程序指令；
4、处理器，用于调用所述存储器中存储的程序指令，按照获得的程序执行：>
5、当满足预本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种自动测试设备，其特征在于，所述自动测试设备包括：
2.根据权利要求1所述的自动测试设备，其特征在于，所述触发条件包括下列条件之一或组合：
3.根据权利要求1所述的自动测试设备，其特征在于，所述对所述测试座上的当前待测试芯片进行测试，并将测试结果反馈给所述分选机，包括：
4.根据权利要求3所述的自动测试设备，其特征在于，所述对所述测试座上的当前待测试芯片进行测试，并将测试结果反馈给所述分选机，还包括：
5.根据权利要求4所述的自动测试设备，其特征在于，所述对所述第一待测试芯片重新按照第一预设规则进行测试，包括：p>
6.根据权...
【技术特征摘要】
1.一种自动测试设备，其特征在于，所述自动测试设备包括：
2.根据权利要求1所述的自动测试设备，其特征在于，所述触发条件包括下列条件之一或组合：
3.根据权利要求1所述的自动测试设备，其特征在于，所述对所述测试座上的当前待测试芯片进行测试，并将测试结果反馈给所述分选机，包括：
4.根据权利要求3所述的自动测试设备，其特征在于，所述对所述测试座上的当前待测试芯片进行测试，并将测试结果反馈给所述分选机，还包括：
5.根据权利要求4所述的自动测试设备，其特征在于，所述对所述第一待测试芯片重新按照第一预设规则进行测试，包括：
6.根据权利要求5所述的自动测试设备，其特征在于，所述对所述第三待测试芯片，按照第一预设规则进行测试，包括：
7.根据权利要求6所述的自动测试设备，其特征在于，对所述第三待测试芯片重新按照第一预设规则进行测试，包括：
8.根据权利要求3、5、...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈俞材，华叙来，罗春艺，李刚，吴延治，
申请(专利权)人：炬芯科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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