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本技术属于航空试验领域，涉及一种用于航空组合密封圈寿命测试的试验装置，其包括上端盖和下端盖，上端盖设置在下端盖的上方；上端盖包括连接板、连接柱和连接件，连接板的第一面与下端盖的侧面连接，连接柱的第一端与连接板的第二面的中部连接，连接件设置在...
该专利属于中国航空综合技术研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国航空综合技术研究所授权不得商用。

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