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本公开涉及半导体技术领域，提供一种冗余修复方法、冗余修复电路及存储器，其中，冗余修复方法包括：获取冗余资源地址以及失效地址；判断本次冗余修复操作是否有剩余编程次数，并响应于本次冗余修复操作有所述剩余编程次数，生成编程指示信号；基于所述编程指...
该专利属于长鑫闵科存储技术（上海）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过长鑫闵科存储技术（上海）有限公司授权不得商用。

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