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本发明属于缺陷检测技术领域，公开了一种面板mura缺陷检测方法、系统及介质，所述方法包括：获取面板图像，对面板图像进行预处理，得到灰度图像；基于小波变换对灰度图像进行小波分解，得到小波域的图像；基于自适应阈值函数对小波域图像进行增强，得到小...
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