一种面板mura缺陷检测方法、系统及介质技术方案

本发明专利技术属于缺陷检测技术领域，公开了一种面板mura缺陷检测方法、系统及介质，所述方法包括：获取面板图像，对面板图像进行预处理，得到灰度图像；基于小波变换对灰度图像进行小波分解，得到小波域的图像；基于自适应阈值函数对小波域图像进行增强，得到小波域的增强图像；将小波域的增强图像转换到空间域，得到空间域图像；对空间域图像进行后处理，得到mura缺陷检测结果。本发明专利技术将灰度图像转到的小波域，再利用自适应阈值函数对小波域图像进行增强，能有效消除噪声干扰；接着将图像从小波域转换到空间域，并对空间域图像进行后处理，以克服图像背景的亮度影响；因此，本发明专利技术的检测方法能有效提高mura缺陷检测的准确度和鲁棒性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属缺陷检测，具体涉及一种面板mura缺陷检测方法、系统及介质。

技术介绍

1、mura缺陷是显示器中因亮度或色度不均匀形成的视觉瑕疵，常见于lcd、oled等屏幕，主要表现为斑块状或线状色差，缺陷区域与周围对比度低，边界模糊，通常需倾斜视角观察，尤其在纯色背景下明显；因而会降低显示质量，影响用户体验（如屏幕“黄斑”或漏光现象）。

2、目前对mura缺陷的检测方法有以下两种类型：

3、‌仪器检测‌：使用成像亮度计（如柯尼卡美能达prometric系列）或面式亮度计（rvs）量化亮度差异；但仪器检测需要依赖人眼感知，缺陷的主观性强，导致检测结果的误差较大；

4、‌算法分析‌：基于多项式曲面拟合技术分离背景与缺陷区域，识别低对比度mura；由于显示面板的产品种类繁多，基于背景建模的方法鲁棒性较差，难以应对不同制程、不同类型显示面板的产品。

5、因此，现有的mura缺陷检测方法还至少存在着鲁棒性差以及检测准确度有待提高。

技术实现思路

1、本专利技术的目的是提本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种面板mura缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的面板mura缺陷检测方法，其特征在于，所述预处理至少包括：灰度转换处理和中值滤波处理。

3.根据权利要求1所述的面板mura缺陷检测方法，其特征在于，基于自适应阈值函数对小波域图像进行增强，得到小波域的增强图像，包括：

4.根据权利要求3所述的面板mura缺陷检测方法，其特征在于，所述自适应阈值函数的表达式为：

5.根据权利要求4所述的面板mura缺陷检测方法，其特征在于，所述增强后的细节系数的计算表达式为：

6.根据权利要求1所述的面板mur...

【技术特征摘要】

1.一种面板mura缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的面板mura缺陷检测方法，其特征在于，所述预处理至少包括：灰度转换处理和中值滤波处理。

3.根据权利要求1所述的面板mura缺陷检测方法，其特征在于，基于自适应阈值函数对小波域图像进行增强，得到小波域的增强图像，包括：

4.根据权利要求3所述的面板mura缺陷检测方法，其特征在于，所述自适应阈值函数的表达式为：

5.根据权利要求4所述的面板mura缺陷检测方法，其特征在于，所述增强后的细节系数的计算表达式为：

6.根据权利要求1所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：闫大庆，母鑫，李强，王浩，
申请(专利权)人：成都博视达科技有限公司，
类型：发明
国别省市：