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本发明提供一种基于光散射的纳米颗粒粒径测量方法和系统，所述方法包括：提供三种具有预设光谱半宽的光源分别作为入射光；所述入射光分别照射待测纳米颗粒溶液，得到三种入射光下的透射光谱和预设散射角对应的散射光谱；根据所述三种入射光下的透射光谱和预设...
该专利属于上海交通大学所有，仅供学习研究参考，未经过上海交通大学授权不得商用。

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