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本发明公开了一种DRAM芯片的测试系统及方法，包括：FPGA和LVDS组合模块，用于对待测试DRAM芯片发出信号并接受DRAM芯片返回的信号，并控制DRAM芯片进入不同工作状态；电压检测ADC电路，用于获取待测试DRAM芯片在不同工作状态的...
该专利属于湖北长江万润半导体技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过湖北长江万润半导体技术有限公司授权不得商用。

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