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一种微波频率与到达角同步测量的硅基集成器件及测量方法技术
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下载一种微波频率与到达角同步测量的硅基集成器件及测量方法的技术资料
文档序号:45815964
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本发明公开了一种微波频率与到达角同步测量的硅基集成器件及测量方法。光源用于发出光载波到双平行马赫‑曾德光电强度调制器的输入端,间隔布置的两个雷达天线接收待测微波信号并发送到双平行马赫‑曾德光电强度调制器,双平行马赫‑曾德光电强度调制器将待测...
该专利属于浙江大学所有,仅供学习研究参考,未经过浙江大学授权不得商用。
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