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控制电路(101)根据包括剂量测定参数和非剂量测定参数两者的多个不同标准来优化放射处理计划(113)。通过一种方法，在第一优化阶段(201)期间，控制电路(101)根据剂量测定参数(例如，仅根据剂量测定参数)来生成第一阶段优化的放射处理计划...该专利属于西门子医疗国际股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过西门子医疗国际股份有限公司授权不得商用。
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