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本发明提供一种晶圆推力截面分类检测方法、系统、设备及存储介质，涉及晶圆封测领域，所述方法流程为：基于目标检测模型初步获取晶圆推力截面的类别；如果晶圆推力截面的类别为晶体残留，则对晶圆封装图像进行图像截取，以得到晶圆区域图像；对晶圆区域图像进...
该专利属于成都数之联科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过成都数之联科技股份有限公司授权不得商用。

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