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本发明公开了基于多软件协同的双极型器件γ辐照损伤模拟与评估系统，涉及半导体的辐射效应技术领域，其技术方案要点是：包括以下模块：辐照试验模块、实验参数确定模块、Geant4模拟模块、Sentaurus TCAD建模模块、损伤模型集成模块、参数...
该专利属于中国人民解放军火箭军工程大学所有，仅供学习研究参考，未经过中国人民解放军火箭军工程大学授权不得商用。

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