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本发明涉及一种基于斯托克斯参量解析的时间分辨荧光光谱测量方法，主要用于精确测量样品荧光的偏振状态。该方法利用脉冲激光器产生所需的脉冲激光序列，通过激发光调制模块对激励脉冲进行调制后，进入荧光测量模块以激发样品并收集荧光信号。随后，产生的荧光...
该专利属于北京师范大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京师范大学授权不得商用。

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