一种基于斯托克斯参量解析的时间分辨荧光光谱测量方法技术

本发明专利技术涉及一种基于斯托克斯参量解析的时间分辨荧光光谱测量方法，主要用于精确测量样品荧光的偏振状态。该方法利用脉冲激光器产生所需的脉冲激光序列，通过激发光调制模块对激励脉冲进行调制后，进入荧光测量模块以激发样品并收集荧光信号。随后，产生的荧光经斯托克斯参量调制模块调制，最终进入检测模块进行荧光信号采集。通过结合时间分辨荧光技术和偏振光学元件，该方法能够精确采集同步激光脉冲与荧光电信号，从而计算时间分辨的斯托克斯参量，进一步得到偏振度、方位角和椭偏度等光学特性。该方法能够适用于各向异性样品、手性样品及其他具有偏振光学性质的样品的研究，在分子光学、材料科学及生命科学等领域具有广泛的应用前景。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光谱学领域，特别是一种基于斯托克斯参量解析的时间分辨荧光光谱测量方法。

技术介绍

1、荧光技术广泛应用于化学、生物学和材料科学等领域，尤其是在分析物质的分子结构、分子间相互作用以及生物标记中具有重要作用。近年来，手性材料的荧光特性引起了广泛关注。手性样品在光学上具有非对称性质，对偏振光具有特定响应，进而影响其荧光信号的偏振特性。例如，手性分子的荧光偏振特性可以作为分子识别的有效工具，广泛应用于药物筛选、传感器设计和生物标志物分析等领域。

2、然而，现有的时间分辨偏振荧光技术在偏振测量中仍存在局限，无法得到荧光的完整的偏振信息，难以满足实验对高精度、全参量测量的需求。传统方法在表征荧光偏振态时往往不够完整，尤其在动态变化过程的表征中易丢失关键信息。因此，如何在时间分辨尺度上精准获取荧光的完整偏振特性，提高测量的准确性以克服现有技术的不足，已成为本领域技术人员亟待解决的重要问题。

技术实现思路

1、为了解决上述问题，本专利技术提供了一种基于斯托克斯参量解析的时间分辨荧光光谱测量方法。其特本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于斯托克斯参量解析的时间分辨荧光光谱测量方法，其特征在于：包含脉冲激光器、激发光调制模块、荧光测量模块、斯托克斯参量调制模块、检测模块，以及斯托克斯参量解析算法。

2.根据权利要求1所述的基于斯托克斯参量解析的时间分辨荧光光谱测量方法，其特征在于：包含以下测量步骤，(1)通过脉冲激光器产生脉冲激光序列；(2)利用激发光调制模块对激励脉冲进行调制；(3)调制后的脉冲激光进入荧光测量模块，激发样品并收集其发射的荧光信号；(4)收集到的荧光信号进入斯托克斯参量调制模块，进行偏振态调制；(5)通过检测模块同步采集激光脉冲信号和荧光电信号；(6)根据所采集的数据计算斯托克斯参...

【技术特征摘要】

1.一种基于斯托克斯参量解析的时间分辨荧光光谱测量方法，其特征在于：包含脉冲激光器、激发光调制模块、荧光测量模块、斯托克斯参量调制模块、检测模块，以及斯托克斯参量解析算法。

2.根据权利要求1所述的基于斯托克斯参量解析的时间分辨荧光光谱测量方法，其特征在于：包含以下测量步骤，(1)通过脉冲激光器产生脉冲激光序列；(2)利用激发光调制模块对激励脉冲进行调制；(3)调制后的脉冲激光进入荧光测量模块，激发样品并收集其发射的荧光信号；(4)收集到的荧光信号进入斯托克斯参量调制模块，进行偏振态调制；(5)通过检测模块同步采集激光脉冲信号和荧光电信号；(6)根据所采集的数据计算斯托克斯参量，获得样品的荧光偏振态信息。

3.根据权利要求1所述的基于斯托克斯参量解析的时间分辨荧光光谱测量方法，其特征在于：通过对样品发射的荧光信号进行斯托克斯参量测量，可以分析样品发光的偏振特性，从而判断其是否具有各向异性、手性、或其它偏振光学性质。

4.根据权利要求1所述的基于斯托克斯参量解析的时间分辨荧光光谱测量方法，其特征在于：所述装置适用于样品的荧光偏振...

【专利技术属性】
技术研发人员：张文凯，吕坦津，冉光柳，
申请(专利权)人：北京师范大学，
类型：发明
国别省市：