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本公开实施例公开了一种反射率校正ToF测距方法、装置、设备及存储介质，其中方法包括：获取经待测目标反射的不同回光强度的光束的光子统计结果；其中，所述光子统计结果包括光子的探测时间和与探测时间对应的光子数量；根据各光束对应的光子统计结果，确定...
该专利属于武汉北极芯微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过武汉北极芯微电子有限公司授权不得商用。

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