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本发明提供一种方法，包括：在移除待测装置（１７０）之后扫描测试插座（１２０）以产生扫描数据；将该扫描数据与参照数据做比较；根据该比较，识别出在该测试插座（１２０）中是否存在有至少一部分的管脚（２１０）。本发明另提供一种测试系统（１００），包...
该专利属于格罗方德半导体公司所有，仅供学习研究参考，未经过格罗方德半导体公司授权不得商用。

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