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本发明提供了一种芯片快速测试装置，包括芯片测试模组、料盘、料盘移动机构及芯片抓取模组，芯片测试模组包括测试治具和压合机构，测试治具用于放置并测试芯片，压合机构用于下压所述芯片，料盘用于容纳多个芯片；料盘移动机构用于在第一方向上同步移动测试治...
该专利属于昆山思特威集成电路有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过昆山思特威集成电路有限公司授权不得商用。

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