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本发明提供了一种精准电子元器件检测方法、系统、设备及其介质，其方法包括以下步骤：获取电子元器件的视觉数据、电学数据和热学数据；对电子元器件的视觉数据、电学数据和热学数据进行预处理。本发明通过融合视觉、电学和热学数据全面获取电子元器件信息，利...
该专利属于深圳市点虹电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市点虹电子科技有限公司授权不得商用。

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