温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明公开了一种芯片良裸晶粒测试治具及测试方法，测试治具包括：底座，底座上通过支撑座安装有治具本体，治具本体内部腔体设置有隔热板，治具本体通过隔热板分隔为多个腔体，腔体内部开设有多组气体流道路径；测试方法包括：通过第一常温空气路径吸附芯片，...
该专利属于苏州圭石科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州圭石科技有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。