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本发明提供了基于Lin‑KK验证的EIS数据质量检验方法，属于EIS数据合格性检验领域，方法包括获取电池的实验EIS数据，设定Lin‑KK模型中RC元件的最大阶数和最小阶数，计算不同阶数下实验EIS数据的拟合结果，基于拟合结果找到最优阶数；...
该专利属于合肥工业大学所有，仅供学习研究参考，未经过合肥工业大学授权不得商用。

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