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本发明公开了一种键合银丝的质量检测方法及系统，涉及键合质量检测技术领域，包括采用红外热像仪对键合区域进行扫描，获取键合过程中的温度场分布数据；采用磁导率测量探头对键合区域进行扫描，获取键合区域的磁导率分布数据；对所述键合区域进行10×10网...
该专利属于深圳市圣城精密有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市圣城精密有限公司授权不得商用。

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