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本发明公开了一种芯片性能测试系统，涉及芯片测试领域，包括：启动模块，用于作为管理端，进行各功能模块的启动和初步配置参数，初始化时进行硬件自检；温度控制模块，用于预设的渐变温度方案，根据预设的渐变温度方案，在不同时间控制环境温度将芯片工作环境...
该专利属于珠海屹芯半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过珠海屹芯半导体有限公司授权不得商用。

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