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本发明提供一种测试系统（１００）；该测试系统用于检测电子装置（１０５；１０５），每个电子装置具有设有多个接线端（２１０；２１０）的盒体（２０５；２０５），例如，ＢＧＡ型。该测试系统包括一组（一个或多个）测试板（１２５；１２５）。每一个测试板...
该专利属于埃勒斯半导体设备股份公司所有，仅供学习研究参考，未经过埃勒斯半导体设备股份公司授权不得商用。

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