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本发明公开了一种晶体管不同温度下的功率变化检测设备，涉及晶体管检测领域，包括设备外壳，所述设备外壳的内部安装有滑动机构与移动台，所述滑动机构带动移动台移动，所述设备外壳的侧面安装有驱动机构，所述驱动机构的输出端连接有第一驱动螺杆，所述第一驱...
该专利属于深圳市高石半导体科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市高石半导体科技有限公司授权不得商用。

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