【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及领域，具体为一种晶体管不同温度下的功率变化检测设备。
技术介绍
1、晶体管是一种广泛应用于电子设备中的半导体器件，主要用于放大信号或开关控制。它由半导体材料(如硅或锗)制成，通常具有三个主要部分：发射极、基极和集电极。晶体管的工作原理基于电流的控制，当输入电流施加到基极时，它能够调节发射极和集电极之间的电流流动，晶体管的性能和工作状态会受到温度变化的显著影响。不同温度下，晶体管的电气特性和行为可能会发生变化，为此在晶体管生产过程中，需要采用检测设备对晶体管不同温度下的功率变化进行测试。
2、现有技术如中国公开号为cn215219044u公开的一种用于测试晶体管耐高温性能的检测装置，包括：
3、外箱体，利用下方底座放置在水平的操作平台上，所述外箱体内部设置有保温效果较好的材料；
4、上盖，可拆卸的设置在所述外箱体上方，所述上盖可防止所述外箱体内部的热量散失；
5、控制面板，固定安装在所述外箱体左侧外表面，所述控制面板与内部元器件通过导线相连接；
6、加热装置，活动安...
【技术保护点】
1.一种晶体管不同温度下的功率变化检测设备，包括设备外壳(1)，其特征在于：所述设备外壳(1)的内部安装有滑动机构(3)与移动台(4)，所述滑动机构(3)带动移动台(4)移动，所述设备外壳(1)的侧面安装有驱动机构(2)，所述驱动机构(2)的输出端连接有第一驱动螺杆(201)，所述第一驱动螺杆(201)的外侧套接有龙门吊架(5)，所述龙门吊架(5)的底端连接有检测机构(6)，所述检测机构(6)的底端安装有密封头(604)与检测台(606)，所述检测机构(6)的内部安装有控制器(602)、进气机构(603)与加热器(609)，所述移动台(4)的顶端安装有多组卡合座(7)...
【技术特征摘要】
1.一种晶体管不同温度下的功率变化检测设备，包括设备外壳(1)，其特征在于：所述设备外壳(1)的内部安装有滑动机构(3)与移动台(4)，所述滑动机构(3)带动移动台(4)移动，所述设备外壳(1)的侧面安装有驱动机构(2)，所述驱动机构(2)的输出端连接有第一驱动螺杆(201)，所述第一驱动螺杆(201)的外侧套接有龙门吊架(5)，所述龙门吊架(5)的底端连接有检测机构(6)，所述检测机构(6)的底端安装有密封头(604)与检测台(606)，所述检测机构(6)的内部安装有控制器(602)、进气机构(603)与加热器(609)，所述移动台(4)的顶端安装有多组卡合座(7)，每组卡合座(7)的顶端皆安装有多组载物台(8)与卡合板(9)，卡合板(9)插入到卡合座(7)内部，载物台(8)通过卡合板(9)与卡合座(7)卡合连接，所述卡合座(7)的两侧皆开设有进气管(10)，进气管(10)与密封头(604)接通。
2.根据权利要求1所述的一种晶体管不同温度下的功率变化检测设备，其特征在于：所述设备外壳(1)的侧面安装有封门(101)，所述设备外壳(1)的顶端安装有关闭气缸(102)，关闭气缸(102)的输出与封门(101)连接，设备外壳(1)的顶端还安装有换气结构(103)。
3.根据权利要求1所述的一种晶体管不同温度下的功率变化检测设备，其特征在于：所述设备外壳(1)的侧面还安装有导向杆(202)，所述导向杆(202)与第一驱动螺杆(201)平行，且龙门吊架(5)套接在第一驱动螺杆(201)与导向杆(202)的外侧。
4.根据权利要求1所述的一种晶体管不同温度下的功率变化检测设备，其特征在于：所述滑动机构(3)的顶端安装有电动滑轨(301)，所述移动台(4)的底端开设有与电动滑轨(301)相匹配的滑槽，所述电动滑轨(301)带动移动台(4)在滑动机构(3)上移动。
5.根据权利要求1所述的一种晶体管不同温度下的功率变化检测设备，其特征在于：所述龙门吊架(5)的上方安装有驱动气缸(501)，所述驱动气缸(501)输出端朝下，且驱动气缸(501)的输出端连接有活动架(502)，所述活动架(502)的侧面安装有固定架(503)，固定架(503)...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈行，
申请(专利权)人：深圳市高石半导体科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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