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本发明提供基于并行余量放大与量化的高速混合架构ADC，涉及集成电路设计技术领域。包括：第一级SAR ADC，用于采集输入信号，对输入信号进行量化，以产生第一级量化码，根据第一级量化码产生第一级余量电压，并对第一级余量电压进行放大，以产生放大...
该专利属于西安电子科技大学杭州研究院所有，仅供学习研究参考，未经过西安电子科技大学杭州研究院授权不得商用。

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