基于并行余量放大与量化的高速混合架构ADC制造技术

技术编号:45291281 阅读:42 留言:0更新日期:2025-05-16 14:35
本发明专利技术提供基于并行余量放大与量化的高速混合架构ADC,涉及集成电路设计技术领域。包括:第一级SAR ADC,用于采集输入信号,对输入信号进行量化,以产生第一级量化码,根据第一级量化码产生第一级余量电压,并对第一级余量电压进行放大,以产生放大的余量电压;第二级SAR ADC,与第一级SAR ADC连接,用于对第一级余量电压并行量化,以产生第二级量化码,并根据第二级量化码和放大的余量电压,产生第二级余量电压;第三级SAR ADC,与第二级SAR ADC连接,用于对第二级余量电压进行量化,以产生第三级量化码。允许SAR ADC量化与余量放大同时进行,使得高速混合架构ADC的速度较高以及运放功耗较低。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及集成电路设计,尤其涉及一种基于并行余量放大与量化的高速混合架构模数转换器(analog to digital converter,adc)。


技术介绍

1、高速高精度的adc可广泛应用于通信系统与高性能仪器应用。一般使用流水线架构实现高速高精度的adc指标要求。使用流水线架构的传统结构的adc为流水线模数转换器(pipelined analog to digital converter,pipelined adc),pipelined adc的级数较多,且使用了大量的比较器与运放器,pipelined adc的开销与功耗都较大。在pipelinedadc的基础上出现了流水线逐次逼近型模数转换器(pipeline successive approximationregister analog to digital converter,pipelined sar adc),pipelined sar adc与pipelined adc相比,具有更少的级数,一般级数为2-3级,且每级sar adc仅需一个比较器,大大降低了功耗与面积开销。

<本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于并行余量放大与量化的高速混合架构ADC,其特征在于,包括第一级SARADC、第二级SAR ADC和第三级SAR ADC;

2.根据权利要求1所述的基于并行余量放大与量化的高速混合架构ADC,其特征在于,所述第一级SAR ADC包括开关S1、开关S2、余量放大器、开关阵列Sa、电容阵列Ca、第一SAR逻辑和第一比较器;

3.根据权利要求2所述的基于并行余量放大与量化的高速混合架构ADC,其特征在于,所述第二级SAR ADC包括开关S3、SAR ADC、开关阵列Sb和电容阵列Cb;

4.根据权利要求3所述的基于并行余量放大与量化的高速混合架构A...

【技术特征摘要】

1.一种基于并行余量放大与量化的高速混合架构adc,其特征在于,包括第一级saradc、第二级sar adc和第三级sar adc;

2.根据权利要求1所述的基于并行余量放大与量化的高速混合架构adc,其特征在于,所述第一级sar adc包括开关s1、开关s2、余量放大器、开关阵列sa、电容阵列ca、第一sar逻辑和第一比较器;

3.根据权利要求2所述的基于并行余量放大与量化的高速混合架构adc,其特征在于,所述第二级sar adc包括开关s3、sar adc、开关阵列sb和电容阵列cb;

4.根据权利要求3所述的基于并行余量放大与量化的高速混合架构adc,其特征在于,所述第三级sar adc包括电容阵列cc、开关阵列sc、第二sar逻辑和第二比较器;

5.根据权利要求4所述的基于并行余量放大与量化的高速混合架构adc,其特征在于,所述sar adc包括开关s4、衰减电容cs、桥接电容cb、电容阵列cd、开关阵列sd、第三sar逻辑和第三比较器;

6.根据权利要求5所述的基于并行余量放大与量化的高速混合架构adc,其特征在于,所述开关阵列sa中的多个第一开关和所述电容阵...

【专利技术属性】
技术研发人员:沈易曹越刘术彬丁瑞雪朱樟明
申请(专利权)人:西安电子科技大学杭州研究院
类型:发明
国别省市:

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