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本发明公开一种测量集成电路OS及功能的测试电路及测试方法，包括：MCU控制模块，用于执行测试程序及数据通信；功能测试模块，包括Loadboard模块及外围电路切换单元，所述Loadboard模块用于承载被测IC并提供功能测试接口，所述外围电...
该专利属于天津金海通半导体设备股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过天津金海通半导体设备股份有限公司授权不得商用。

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