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本发明提供一种基于神经网络算法的芯片自动化测试方法，涉及集成电路测试技术领域，其主要步骤为：将对芯片的测试项和测试条件作为神经网络的输入，将需调用的芯片测试系统的测试资源和测试行为作为神经网络的输出；将神经网络封装为芯片测试系统可以直接调用...
该专利属于成都华微电子科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过成都华微电子科技股份有限公司授权不得商用。

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