【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及集成电路测试，尤其涉及一种基于神经网络算法的芯片自动化测试方法。
技术介绍
1、大规模集成电路测试系统是对各种各样的微控制器、fpga和数字音频、基带设备进行经济高效测试的行业标准，例如泰瑞达的ultraflex测试系统和其他一些测试系统。
2、不同测试平台使用不同的编程语言，对同一种测试方法的描述有可能存在差异，不同平台上的数据处理开发代码无法直接移植；例如ultraflex使用的是vb语言，其数据处理效率低下，不适合用于大数据量的处理，尤其对于需要进行非常多浮点运算的神经网络算法而言，直接在vb上面开发效率非常低；另外，基于ultraflex的相同品类器件的测试平台软件开发均需要工程师介入，即使是微量的参数调整；对于同一品类的器件，硬件开发完成后，软件开发跟开发工程师的技能水平相关，无法保证测试软件的鲁棒性和覆盖率，后续的维护工作开展困难。在平台维护时，动态链接库提供的是各种标准参数的函数，不支持可变参数输入，函数之间相对独立，不利于动态链接库调试与使用。
3、随着人工智能技术的不断发展，神经网...
【技术保护点】
1.一种基于神经网络算法的芯片自动化测试方法，其特征在于，包括下述步骤：
2.根据权利要求1所述的一种基于神经网络算法的芯片自动化测试方法，其特征在于：所述测试项至少包括开短路测试、漏流、电源电流、功能测试、时序，所述测试条件至少包括测试方法、施加电流值、测试管脚名称、测试上限、测试下限。
3.根据权利要求1所述的一种基于神经网络算法的芯片自动化测试方法，其特征在于：所述测试资源至少包括引脚参数测量单元PPMU、高密度电压源HDVS，所述测试行为至少包括加电流测电压、加电流测电流、加电压测电流、加电压测电压。
4.根据权利要求1所述...
【技术特征摘要】
1.一种基于神经网络算法的芯片自动化测试方法，其特征在于，包括下述步骤：
2.根据权利要求1所述的一种基于神经网络算法的芯片自动化测试方法，其特征在于：所述测试项至少包括开短路测试、漏流、电源电流、功能测试、时序，所述测试条件至少包括测试方法、施加电流值、测试管脚名称、测试上限、测试下限。
3.根据权利要求1所述的一种基于神经网络算法的芯片自动化测试方法，其特征在于：所述测试资源至少包括引脚参数测量单元ppmu、高密度电压源hdvs，所述测试行为至少包括加电流测电压、加电流测电流、加电压测电流、加电压测电压。
4.根据权利要求1所述的一种基于神经网络算法的芯片自动...
【专利技术属性】
技术研发人员：李小虎，谌谦，杨超，刘建明，全丽静，杨岚，杜超，
申请(专利权)人：成都华微电子科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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