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本申请涉及图像处理技术领域，公开了一种电路板用质量分析方法、系统及存储介质。该方法包括：依照数据集提取特征信息，生成缺陷分布图谱；基于图谱提取光谱反射数据，计算材料均匀度，获取焊接质量数据表；采集质量特征参数，建立质量等级索引，生成分级数据...
该专利属于郑州大学所有，仅供学习研究参考，未经过郑州大学授权不得商用。

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