【技术实现步骤摘要】
本申请涉及图像处理领域，尤其涉及一种电路板用质量分析方法、系统及存储介质。
技术介绍
1、在现有的电路板质量分析技术中，主要采用光学检测、电气测试和x射线检测等手段。光学检测通过aoi（自动光学检测）设备采集电路板表面图像，与标准图像进行对比识别缺陷；电气测试采用飞针测试或ict（在线测试）设备检测导通性和绝缘性；x射线检测用于检查bga焊接、内层互连等隐藏缺陷。在数据处理方面，采用传统的图像处理算法进行缺陷识别，使用统计分析方法评估质量参数，并通过专家经验对工艺参数进行调整优化。质量评估过程建立了基于抽样检测的质量控制体系，对产品的外观、性能和可靠性进行综合评价。
2、然而，现有的电路板质量分析技术存在以下不足：首先，各种检测手段相互独立，缺乏有效的数据融合机制，无法实现检测数据的协同分析；其次，传统的图像处理算法主要关注缺陷的检出，对缺陷形成的原因缺乏深入分析，难以为工艺改进提供有效指导；再次，质量分析过程过度依赖人工经验，缺乏智能化的数据分析手段，影响分析效率和准确性；最后，质量数据与工艺参数之间缺乏明确的关联关系，无...
【技术保护点】
1.一种电路板用质量分析方法，其特征在于，所述电路板用质量分析方法包括：
2.根据权利要求1所述的电路板用质量分析方法，其特征在于，所述利用多光谱成像获取电路板的原始图像数据，经过信号降噪和图像配准，由波段数据融合形成空间特征数据库，再通过数据标准化处理，得到标准化多维图像数据集，包括：
3.根据权利要求1所述的电路板用质量分析方法，其特征在于，所述依照所述标准化多维图像数据集中的光谱波段数据，提取电路板表面特征信息，将特征点数据与预设阈值进行对比分析，经多维度缺陷特征标记，生成缺陷分布特征图谱，包括：
4.根据权利要求1所述的电路...
【技术特征摘要】
1.一种电路板用质量分析方法，其特征在于，所述电路板用质量分析方法包括：
2.根据权利要求1所述的电路板用质量分析方法，其特征在于，所述利用多光谱成像获取电路板的原始图像数据，经过信号降噪和图像配准，由波段数据融合形成空间特征数据库，再通过数据标准化处理，得到标准化多维图像数据集，包括：
3.根据权利要求1所述的电路板用质量分析方法，其特征在于，所述依照所述标准化多维图像数据集中的光谱波段数据，提取电路板表面特征信息，将特征点数据与预设阈值进行对比分析，经多维度缺陷特征标记，生成缺陷分布特征图谱，包括：
4.根据权利要求1所述的电路板用质量分析方法，其特征在于，所述根据所述缺陷分布特征图谱，提取电路板表面的光谱反射数据点，结合各波段的光强衰减曲线，进行材料均匀度计算，获取焊接质量数据表，包括：
5.根据权利要求1所述的电路板用质量分析方法，其特征在于，所述基于所述缺陷分布特征图谱和所述焊接质量数据表，采集质量特征参数，通过分级阈值区间划分，建立电路板质...
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