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本发明涉及一种基于多聚焦图像融合的芯片引脚共面度检测方法及系统，属于芯片检测技术领域，通过根据所述芯片引脚侧面图像构建数据集并对所述数据集中的图像进行预处理，构建训练集，获取裁剪后的图像块，从而根据所述裁剪后的图像块构建基于多聚焦图像融合的...
该专利属于苏州科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过苏州科技大学授权不得商用。

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