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本发明实施例公开了一种芯片的验证方法、装置、设备及介质，适用于芯片测试领域，该方法包括：采用形式化验证方法，基于所述芯片的浮点计算模块的数据路径描述，对所述浮点计算模块进行验证，直至达到设定验证完成条件为止；采用通用验证方法，基于测试用例对...
该专利属于太初（无锡）电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过太初（无锡）电子科技有限公司授权不得商用。

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