【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及芯片测试领域，尤其涉及一种芯片的验证方法、装置、设备及介质。
技术介绍
1、芯片验证是确保集成电路设计正确性和可靠性的重要环节，其重要性在于它能够提前发现设计中的缺陷和错误，避免在芯片制造后才发现问题而导致的巨大经济损失和时间延误。
2、芯片验证的一个重要环节，是通过各类测试用例验证芯片的完备性，但是由于测试用例本身是有限的，因此，无法覆盖全部的验证情况，进一步的，由于芯片的集成度越来越高，所需验证的数据数量增加，当前的验证方法会消耗大量的计算资源和时间资源。
技术实现思路
1、本专利技术实施例的技术方案提供了一种芯片的验证方法、装置、设备及介质，通过本专利技术实施例的方案，可以提高芯片验证效率及完备性，节约芯片验证所需的验证资源。
2、第一方面，本专利技术实施例提供了一种芯片的验证方法，包括：
3、采用形式化验证方法，基于所述芯片的浮点计算模块的数据路径描述，对所述浮点计算模块进行验证，直至达到设定验证完成条件为止；
4、采用...
【技术保护点】
1.一种芯片的验证方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，采用形式化验证方法，基于所述芯片的浮点计算模块的数据路径描述，对所述浮点计算模块进行验证包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，停止无过约束验证环节之后，还包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述过约束条件包括下述至少一种：浮点数的指数或底数的取值范围。
5.根据权利要求1-4任一所述的方法，其特征在于，采用通用验证方法，基于测试用例对所述芯片的功能级模块的电路运行逻辑编码进行验证包括：
6.根据权利...
【技术特征摘要】
1.一种芯片的验证方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，采用形式化验证方法，基于所述芯片的浮点计算模块的数据路径描述，对所述浮点计算模块进行验证包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，停止无过约束验证环节之后，还包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述过约束条件包括下述至少一种：浮点数的指数或底数的取值范围。
5.根据权利要求1-4任一所述的方法，其特征在于，采用通用验证方法，基于测试用例对所述芯片的功能级模块的电路运行逻辑编码进行验证包括：
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，基于测试用例对所述芯片的功能级...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨晓雨，
申请(专利权)人：太初无锡电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。