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本发明提供了一种基于深度学习的叶菜病害检测调控方法及系统。采集叶菜的生长图像和环境参数数据，利用改进DETR模型进行病害检测，输出病害区域的边界框和病害类别。采用基于边界框的弱监督分割方法进行分割，获得各个病害区域的像素级分割图，提取病害区...
该专利属于同济大学所有，仅供学习研究参考，未经过同济大学授权不得商用。

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