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本发明涉及量子计算机技术领域，具体涉及一种仿真半导体量子点器件的质量判断方法及装置，本发明通过仿真的方式模拟半导体量子点器件，然后，确定所述仿真半导体量子点器件的限制电势分布图对应的多个波函数，并构建多个所述波函数对应的波函数图像；通过确定...
该专利属于本源量子计算科技（合肥）股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过本源量子计算科技（合肥）股份有限公司授权不得商用。

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