仿真半导体量子点器件的质量判断方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及量子计算机技术领域，具体涉及一种仿真半导体量子点器件的质量判断方法及装置，本发明专利技术通过仿真的方式模拟半导体量子点器件，然后，确定所述仿真半导体量子点器件的限制电势分布图对应的多个波函数，并构建多个所述波函数对应的波函数图像；通过确定仿真半导体量子点器件的限制电势所对应的波函数的状态对仿真半导体量子点器件是否能形成量子点进行判断，当仿真半导体量子点器件能形成量子点时，该仿真半导体量子点器件质量符合要求，可以依据该仿真半导体量子点器件进行生产，提高实际生产中半导体量子点器件的成品率，节约成本。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及量子计算机，尤其涉及一种仿真半导体量子点器件的质量判断方法及装置。

技术介绍

1、半导体量子点器件是通过半导体异质结或者mos(metal oxide semiconductor，金属氧化物半导体)表面制作一系列电极，通过调控电极电压使电子被束缚在很小的区域形成量子点。然而在实际生产制作的半导体量子点器件中，有很多半导体量子点器件是不能形成量子点的，半导体量子点器件在实际制作时成品率偏低。为寻找可行的半导体量子点器件，实际生产时只能通过大批量制作半导体量子点器件的样品来筛选，会导致制作成本极高。

技术实现思路

1、本专利技术提供了一种仿真半导体量子点器件的质量判断方法及装置，用以解决半导体量子点器件在实验制作时成品率偏低、半导体量子点器件制作成本极高的问题。

2、本说明书实施例提供一种仿真半导体量子点器件的质量判断方法，包括：

3、确定所述仿真半导体量子点器件的限制电势分布图对应的多个波函数，并构建多个所述波函数对应的波函数图像；

4、确定所述波函数图像中波函本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种仿真半导体量子点器件的质量判断方法，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在确定所述仿真半导体量子点器件的限制电势分布图对应的多个波函数之前，包括：

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述计算所述仿真半导体量子点器件的限制电势分布图对应的波函数，包括：

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述预设电势分布函数包括泊松方程；

5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定多个所述波函数的状态，包括：

6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，所述基于多个所述波函数的状态确定仿真半导体量子点器...

【技术特征摘要】

1.一种仿真半导体量子点器件的质量判断方法，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在确定所述仿真半导体量子点器件的限制电势分布图对应的多个波函数之前，包括：

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述计算所述仿真半导体量子点器件的限制电势分布图对应的波函数，包括：

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述预设电势分布函数包括泊松方程；

5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定多个所述波函数的状态，包括：

6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，所述基于多个所述波函数的状态确定仿真半...

【专利技术属性】
技术研发人员：请求不公布姓名，李舒啸，
申请(专利权)人：本源量子计算科技合肥股份有限公司，
类型：发明
国别省市：