温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本申请提供了一种顶针装置检测方法，包括：将待检测顶针装置放置于检测平台；通过顶面光学系统获取顶针装置的顶针顶面图像，基于顶针顶面图像确定顶针装置的顶针的排布缺陷信息；通过侧面光学系统获取顶针装置的顶针侧面图像，基于顶针侧面图像确定顶针装置的...
该专利属于苏州通富超威半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州通富超威半导体有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。