温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

一种测试电路及测试方法，测试电路包括：参考电路单元，包括第一充电支路以及与所述第一充电支路耦接的参考电容支路，所述参考电路单元适于响应于充电信号，且通过所述第一充电支路获取第一充电电流值；待测电路单元，包括第二充电支路以及与所述第二充电支路...
该专利属于中芯国际集成电路制造（北京）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中芯国际集成电路制造（北京）有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。