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本申请公开了一种多通道延迟补偿装置及测试设备，属于半导体测试技术领域，其中，多通道延迟补偿装置包括：相互连接的采样模块、第一延时单元，以及分别与采样模块、第一延时单元连接的控制模块，采样模块包括多个采样路径，采样路径包括多个通道；第一延时单...
该专利属于长迈半导体（成都）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过长迈半导体（成都）有限公司授权不得商用。

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