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本发明提供了一种用于光学膜断面微结构形貌分析的制样方法，涉及光学膜技术领域。本发明用于光学膜断面微结构形貌分析的制样方法包括：先将待测光学膜样品的微结构面覆上一层透明的PET保护膜，然后使用锋利的刀片对覆保后的光学膜进行切割，快速得到具有清...
该专利属于宁波激智科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过宁波激智科技股份有限公司授权不得商用。

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