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格芯美国集成电路科技有限公司
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高电子迁移率晶体管制造技术
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文档序号:44973117
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本公开涉及半导体结构,更具体地说,涉及高电子迁移率晶体管和制造方法。该结构包括:半导体衬底;至少一个绝缘体膜,其位于半导体衬底上方,该至少一个绝缘体膜包括凹陷;以及场板,其延伸到至少一个凹陷内并且位于至少一个绝缘体膜上方。...
该专利属于格芯(美国)集成电路科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过格芯(美国)集成电路科技有限公司授权不得商用。
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