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本发明提供了一种周期性高密度柱形物体均匀性测量与评价的方法，包括步骤S1：利用显微镜获得周期性高密度柱形物体的高度与坐标的数据，并将其组织为数据矩阵；步骤S2：根据采集的数据矩阵，重建并绘制出周期性高密度柱形物体的原始形貌，计算周期性高密度...
该专利属于中国科学院上海技术物理研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院上海技术物理研究所授权不得商用。

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