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本发明实施例公开了一种面向X射线成像的散射校正方法、装置、系统及介质。该方法可包括：针对基于双层探测器的CT成像系统，获取利用CT成像系统针对被扫描对象扫描到的对象信号，其中，CT成像系统中的防散射滤线栅放置于低能探测器和高能探测器之间，且...
该专利属于深圳先进技术研究院所有，仅供学习研究参考，未经过深圳先进技术研究院授权不得商用。

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