【技术实现步骤摘要】
本专利技术实施例涉及医学图像，尤其是涉及一种面向x射线成像的散射校正方法、装置、系统及介质。
技术介绍
1、在x射线锥束电子计算机断层扫描(computed tomography，ct)成像的过程中，散射问题是限制其成像质量的一个重要因素。因此，为了获得高质量的锥束ct图像，散射校正是锥束ct成像过程中的重要环节。
2、但是，目前采用的散射校正方案的校正速度较慢，从而使得无法满足实时散射校正的需求和锥束ct成像的基本要求，亟待改进。
技术实现思路
1、本专利技术实施例提供了一种面向x射线成像的散射校正方法、装置、系统及介质，以实现ct成像的快速散射校正。
2、根据本专利技术的一方面，提供了一种面向x射线成像的散射校正方法，可以包括：
3、针对基于双层探测器的ct成像系统，获取利用ct成像系统针对被扫描对象扫描到的对象信号，其中，ct成像系统中的防散射滤线栅放置于低能探测器和高能探测器之间，且对象信号包括通过低能探测器接收到的低能对象信号以及通过高能探测器...
【技术保护点】
1.一种面向X射线成像的散射校正方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，还包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述高能对象信号为高能直射信号，所述根据所述高能对象信号、所述低能背景信号、所述高能背景信号以及所述目标比例关系，预估所述低能对象信号中的低能直射信号，包括：
5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述高能X射线下的物质衰减系数与所述低能X射线下的物质衰减系数，均通过与所述被扫描对象匹配的标准体膜，预先校正得到。p>
6.根据权...
【技术特征摘要】
1.一种面向x射线成像的散射校正方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，还包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述高能对象信号为高能直射信号，所述根据所述高能对象信号、所述低能背景信号、所述高能背景信号以及所述目标比例关系，预估所述低能对象信号中的低能直射信号，包括：
5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述高能x射线下的物质衰减系数与所述低能x射线下的物质衰减系数，均通过与所述被扫描对象匹配的标准体膜，预先校正得到。
6.根...
【专利技术属性】
技术研发人员：葛永帅，张欣，梁栋，郑海荣，
申请(专利权)人：深圳先进技术研究院，
类型：发明
国别省市：
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